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Licence Creative Commons Microscopie à faisceaux croisés : électronique et ionique au LEM3 (FIB, Focussed ion beam)

30 juin 2013
Durée : 00:03:01
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Dans le cadre du Contrat de Projet Etat-Région 2007-2013, le Laboratoire d’Etudes des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (UMR 7239 CNRS / Université de Lorraine) vient d’acquérir un microscope électronique haute résolution intégrant une colonne ionique.

Ce type de microscope, initialement utilisé dans l’industrie des semi-conducteurs, devient un outil incontournable pour la recherche en nanosciences. Il permet la fabrication, la manipulation et l’imagerie par reconstruction 3D d’objets de taille nanométrique.

L’équipement installé au LEM3 est unique : la configuration de travail a été optimisée pour l’acquisition de données EBSD 3D en mode statique et en condition d’imagerie haute résolution.

Cette opération est réalisée avec le soutien financier des Fonds européens de développement régional, de l’Etat, du Conseil Régional de Lorraine, du Conseil Général de la Moselle, de l’Université de Lorraine et du CNRS.

A l'occasion de l'inauguration de cet équipement en juin 2013, le LEM3 a organisé deux manifestations scientifiques :

- une journée sur la microscopie à faisceaux croisés: principe et application

- une formation à l'exploitation des données EBSD 3D pour la caractérisation des microstructures et l’analyse des joints de grains.

Le contenu de ces journées et les présentations scientifiques sont disponibles sur le site de ces manifestations : http://www.lem3.fr/FIB/

 Informations

  • Ajouté par : Claude Rochette
  • Contributeur(s) :
    • Julien Guyon (contributeur)
    • Nathalie Gey (contributeur)
  • Mis à jour le : 21 novembre 2013 00:00
  • Type : Actualités et Informations
  • Langue principale : Français
  • Discipline(s) :